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AOD-ZSM-BZSM-B 三階非線性極化率的Z掃描法參數(shù)測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

ZSM-B 三階非線性極化率的Z掃描法參數(shù)測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)
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產(chǎn)品型號:
AOD-ZSM-B
產(chǎn)品報(bào)價(jià):
0
發(fā)布時(shí)間:
2019/1/11 8:35:54
產(chǎn)品特點(diǎn):
測量光致非線性折射率是研究介質(zhì)三階非線性光學(xué)性質(zhì)的重要手段,而測量非線性折射率的方法已有很多:非線性干涉技術(shù)、簡并四波混頻、自衍射、橢偏術(shù)及光束畸變測量等。20世紀(jì)90年代初發(fā)展起了一種Z掃描法,這種測量方法不僅可以用單光束測量,而且可以用同一裝置測出非線性折射率和非線性吸收系數(shù),即三階非線性極化率的實(shí)部和虛部,因而受到人們的青睞。
  AOD-ZSM-BZSM-B 三階非線性極化率的Z掃描法參數(shù)測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的詳細(xì)資料:
本公司今日報(bào)道:ZSM-B 三階非線性極化率的Z掃描法參數(shù)測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

一、產(chǎn)品簡介

測量光致非線性折射率是研究介質(zhì)三階非線性光學(xué)性質(zhì)的重要手段,而測量非線性折射率的方法已有很多:非線性干涉技術(shù)、簡并四波混頻、自衍射、橢偏術(shù)及光束畸變測量等。20世紀(jì)90年代初發(fā)展起了一種Z掃描法,這種測量方法不僅可以用單光束測量,而且可以用同一裝置測出非線性折射率和非線性吸收系數(shù),即三階非線性極化率的實(shí)部和虛部,因而受到人們的青睞。

 

二、知識點(diǎn)

    非線性吸收、三階非線性效應(yīng)、光克爾效應(yīng)、光束的自聚焦

 

三、涉及課程

非線性光學(xué)、光電檢測、工程光學(xué)、應(yīng)用光學(xué)、物理光學(xué)

 

四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

      1、  Z掃描法測量非線性折射率系數(shù)

            2、Z掃描法測量非線性吸收系數(shù)ZSM-B 三階非線性極化率的Z掃描法參數(shù)測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

一、產(chǎn)品簡介

測量光致非線性折射率是研究介質(zhì)三階非線性光學(xué)性質(zhì)的重要手段,而測量非線性折射率的方法已有很多:非線性干涉技術(shù)、簡并四波混頻、自衍射、橢偏術(shù)及光束畸變測量等。20世紀(jì)90年代初發(fā)展起了一種Z掃描法,這種測量方法不僅可以用單光束測量,而且可以用同一裝置測出非線性折射率和非線性吸收系數(shù),即三階非線性極化率的實(shí)部和虛部,因而受到人們的青睞。

 

二、知識點(diǎn)

    非線性吸收、三階非線性效應(yīng)、光克爾效應(yīng)、光束的自聚焦

 

三、涉及課程

非線性光學(xué)、光電檢測、工程光學(xué)、應(yīng)用光學(xué)、物理光學(xué)

 

四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

      1、  Z掃描法測量非線性折射率系數(shù)

            2、Z掃描法測量非線性吸收系數(shù)

更新時(shí)間:2024/9/24 11:07:07

產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字:ZSM-B   三階非線性極化率的Z掃描法參數(shù)測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)   
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