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AOD-ESPI-BESPI-B 電子散斑干涉測量實驗系統(tǒng)

ESPI-B 電子散斑干涉測量實驗系統(tǒng)
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產(chǎn)品型號:
AOD-ESPI-B
產(chǎn)品報價:
0
發(fā)布時間:
2019/1/8 20:14:25
產(chǎn)品特點(diǎn):
電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測量精度高、 頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。

  AOD-ESPI-BESPI-B 電子散斑干涉測量實驗系統(tǒng)的詳細(xì)資料:
本公司今日報道:一、產(chǎn)品簡介

電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測量精度高、 頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。

 

二、知識點(diǎn)

散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性

 

三、涉及課程

物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測量、光電檢測、激光原理與技術(shù)

 

四、實驗內(nèi)容

1、 電子散斑干涉原理實驗

2、 圖像預(yù)處理

3、 表面三維圖

4、 壓電陶瓷特性研究一、產(chǎn)品簡介

電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測量精度高、 頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。

 

二、知識點(diǎn)

散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性

 

三、涉及課程

物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測量、光電檢測、激光原理與技術(shù)

 

四、實驗內(nèi)容

1、 電子散斑干涉原理實驗

2、 圖像預(yù)處理

3、 表面三維圖

4、 壓電陶瓷特性研究一、產(chǎn)品簡介

電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測量精度高、 頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。

 

二、知識點(diǎn)

散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性

 

三、涉及課程

物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測量、光電檢測、激光原理與技術(shù)

 

四、實驗內(nèi)容

1、 電子散斑干涉原理實驗

2、 圖像預(yù)處理

3、 表面三維圖

4、 壓電陶瓷特性研究一、產(chǎn)品簡介

電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場實時測量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測量精度高、 頻率范圍寬及測量簡便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試。

 

二、知識點(diǎn)

散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性

 

三、涉及課程

物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測量、光電檢測、激光原理與技術(shù)

 

四、實驗內(nèi)容

1、 電子散斑干涉原理實驗

2、 圖像預(yù)處理

3、 表面三維圖

4、 壓電陶瓷特性研究

更新時間:2024/9/24 11:07:46

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