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LED(Light Emitting Diode),半導(dǎo)體發(fā)光二極管,是一種固態(tài)的半導(dǎo)體器件,它可以直接把電轉(zhuǎn)化為光,以其低功耗,高效率,高穩(wěn)定型等特點在照明、光通信等領(lǐng)域逐步替代傳統(tǒng)光源。對LED的各項參數(shù)的理解與測試方式的掌握是開發(fā)應(yīng)用此類器件的基礎(chǔ)。采用新光電器件及現(xiàn)在工業(yè)廣泛應(yīng)用的測試方法開發(fā)的此套教學(xué)實驗產(chǎn)品適用于光電專業(yè)本科生基礎(chǔ)光電實驗及高職院校學(xué)生實訓(xùn)課程。
二、知識點
LED正向V/I特性、LED反向V/I特性、LED發(fā)散角、LED光譜、色坐標、配色
三、涉及課程
模擬電路、光電子技術(shù)、顯示器件驅(qū)動及應(yīng)用、LED顯示技術(shù)
四、實驗內(nèi)容
1、LED正向特性測試實驗
2、LED反向特性測試實驗
3、LED角度特性測試實驗
4、LED光譜特性測試實驗
5、LED時間響應(yīng)特性測試實驗
6、LED配色實驗
7、LED光譜及色坐標測量實驗LED(Light Emitting Diode),半導(dǎo)體發(fā)光二極管,是一種固態(tài)的半導(dǎo)體器件,它可以直接把電轉(zhuǎn)化為光,以其低功耗,高效率,高穩(wěn)定型等特點在照明、光通信等領(lǐng)域逐步替代傳統(tǒng)光源。對LED的各項參數(shù)的理解與測試方式的掌握是開發(fā)應(yīng)用此類器件的基礎(chǔ)。采用新光電器件及現(xiàn)在工業(yè)廣泛應(yīng)用的測試方法開發(fā)的此套教學(xué)實驗產(chǎn)品適用于光電專業(yè)本科生基礎(chǔ)光電實驗及高職院校學(xué)生實訓(xùn)課程。
二、知識點
LED正向V/I特性、LED反向V/I特性、LED發(fā)散角、LED光譜、色坐標、配色
三、涉及課程
模擬電路、光電子技術(shù)、顯示器件驅(qū)動及應(yīng)用、LED顯示技術(shù)
四、實驗內(nèi)容
1、LED正向特性測試實驗
2、LED反向特性測試實驗
3、LED角度特性測試實驗
4、LED光譜特性測試實驗
5、LED時間響應(yīng)特性測試實驗
6、LED配色實驗
7、LED光譜及色坐標測量實驗LED(Light Emitting Diode),半導(dǎo)體發(fā)光二極管,是一種固態(tài)的半導(dǎo)體器件,它可以直接把電轉(zhuǎn)化為光,以其低功耗,高效率,高穩(wěn)定型等特點在照明、光通信等領(lǐng)域逐步替代傳統(tǒng)光源。對LED的各項參數(shù)的理解與測試方式的掌握是開發(fā)應(yīng)用此類器件的基礎(chǔ)。采用新光電器件及現(xiàn)在工業(yè)廣泛應(yīng)用的測試方法開發(fā)的此套教學(xué)實驗產(chǎn)品適用于光電專業(yè)本科生基礎(chǔ)光電實驗及高職院校學(xué)生實訓(xùn)課程。
二、知識點
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三、涉及課程
模擬電路、光電子技術(shù)、顯示器件驅(qū)動及應(yīng)用、LED顯示技術(shù)
四、實驗內(nèi)容
1、LED正向特性測試實驗
2、LED反向特性測試實驗
3、LED角度特性測試實驗
4、LED光譜特性測試實驗
5、LED時間響應(yīng)特性測試實驗
6、LED配色實驗
7、LED光譜及色坐標測量實驗LED(Light Emitting Diode),半導(dǎo)體發(fā)光二極管,是一種固態(tài)的半導(dǎo)體器件,它可以直接把電轉(zhuǎn)化為光,以其低功耗,高效率,高穩(wěn)定型等特點在照明、光通信等領(lǐng)域逐步替代傳統(tǒng)光源。對LED的各項參數(shù)的理解與測試方式的掌握是開發(fā)應(yīng)用此類器件的基礎(chǔ)。采用新光電器件及現(xiàn)在工業(yè)廣泛應(yīng)用的測試方法開發(fā)的此套教學(xué)實驗產(chǎn)品適用于光電專業(yè)本科生基礎(chǔ)光電實驗及高職院校學(xué)生實訓(xùn)課程。
二、知識點
LED正向V/I特性、LED反向V/I特性、LED發(fā)散角、LED光譜、色坐標、配色
三、涉及課程
模擬電路、光電子技術(shù)、顯示器件驅(qū)動及應(yīng)用、LED顯示技術(shù)
四、實驗內(nèi)容
1、LED正向特性測試實驗
2、LED反向特性測試實驗
3、LED角度特性測試實驗
4、LED光譜特性測試實驗
5、LED時間響應(yīng)特性測試實驗
6、LED配色實驗
7、LED光譜及色坐標測量實驗
更新時間:2024/9/24 11:08:29